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VMS-8S型透過率測(cè)試儀(分光光度儀)-1.0mm或0.5mm 專業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率，PDA檢測(cè)器測(cè)速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。現(xiàn)貨供應(yīng)。

LVmicroZ是顯微分光系統(tǒng)，使用Lambda Vision制造分光專用顯微鏡，采用小孔直良手法測(cè)量彩色濾光片的微小面積的穿透率、反射率、辨色。分光器內(nèi)建光源，可以直接觀察量測(cè)點(diǎn)位置，也可以做反射光下的NIR顏料膜厚測(cè)量。

VMS-10S型透過率測(cè)試儀(分光光度儀)-0.3mm 2.5D玻璃面板透過率測(cè)試儀，專業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率，PDA檢測(cè)器測(cè)速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。

VMS-1S型透過率測(cè)試儀(分光光度儀)-1.0mm 2.5D玻璃面板透過率測(cè)試儀，專業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過率，PDA檢測(cè)器測(cè)速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。目前該型號(hào)停產(chǎn)，替代型號(hào)VMS-8S型。

專為玻璃行業(yè)推出透過率測(cè)試附件，水平或者垂直載物臺(tái)方便用戶操作測(cè)試，數(shù)秒即出全光譜數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品全檢。提供快速、可靠和緊湊的性能，3秒鐘即出全光譜數(shù)據(jù)，使其成為在最小空間內(nèi)進(jìn)行質(zhì)量控制和保證測(cè)量的理想選擇。 光電二極管整列（pda）檢測(cè)器技術(shù)允許幾乎同時(shí)快速獲取全波長范 圍（從190 nm到110 nm）的光譜數(shù)據(jù)。